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8-12寸晶圓檢查機

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8-12寸晶圓檢查機

晶圓檢驗設(shè)備,適合 8inch~ 12inch wafer

主要功能:

1.Loadport:可兼容8” Cassette & 12” 25 slot Wafer FOUP/FOSB;封閉式晶圓盒可自動開蓋;可選配RFID讀卡識別和自動mapping功能。

2.Prfe Aligner:對Wafer進(jìn)行預(yù)定位,調(diào)整取片中心位 置和Wafer缺口朝向;綜合精度:中心偏位±0.15 mm,缺口朝向精度±0.3度;可讀取Wafer 表面 刻號用于提取數(shù)據(jù)或關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù);針對片源類型有 多款機型可選配置(如透明片、非透明片、正面 讀刻號或背面讀刻號、貼合片等)。 

3.晶圓傳送機械手:晶圓傳送機械手四軸同動,傳送安全穩(wěn)定,雙叉臂一取一放提高傳片效率;牙叉上安裝Mapping傳感器可對晶圓盒內(nèi)晶圓進(jìn)行Mapping ;牙叉根據(jù)使用可定制,材料有鋁合金、碳纖維、陶瓷等可選。

4 精密大理石檢測平臺:運動軸采用直線電機加高精度光柵尺,運行檢測平穩(wěn);綜合精度:X軸/Y軸重復(fù)精度±0.005mm,光柵尺最小分辨率1um,Z軸重復(fù)精度±0.01mm;載臺可兼容可兼容8-12寸Wafer,采用真空吸附固定 。

5.顯微鏡搭載1200W相機,可搭配物鏡倍率2.5X、5X、7.5X、10X,最高單像素精度可達(dá)0.5um;顯微鏡成像清晰,物鏡可自動切換。


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